
王焜
助理研究员
电子邮箱:k.wang@hnas.ac.cn
王焜,墨子实验室助理研究员,主要从事宽禁带半导体器件及铁电材料研究。主要研究方向包括:(1)氮化镓基射频功率器件的设计与开发;(2)氧化铪基铁电薄膜及其器件应用的研究;(3)金属氧化物薄膜晶体管的设计与开发。参与国家重点研发计划、湖北省JD攻关项目。以第一作者及通讯作者在Chemical Engineering Journal,IEEE Electron Device Letters,IEEE Transactions on Electron Devices等期刊上发表多篇SCI论文。
教育经历
2016.09-2020.06 山东大学(威海) 应用物理学专业 理学学士
2020.09-2022.06 武汉大学 微电子学与固体电子学专业 工学硕士
2022.09-2025.06 武汉大学 微电子学与固体电子学专业 工学博士
工作经历
2025.06至今 墨子实验室 助理研究员
近五年代表性论文、专利
Kun Wang, Jiaxian Wan, Keyue Chen, Zexin Tu, Hao Wu*, Chang Liu*. Hf0.5Zr0.5O2 based ferroelectric gate AlGaN/GaN HEMTs with steep subthreshold swings. IEEE Transactions on Electron Devices 70(11): 6082-6085(2023).
Kun Wang, Sizhe Li, Liwei Ji, Jiaxian Wan, Zexin Tu, Hao Wu*, Chang Liu*. Atomic layer deposited ZnO negative capacitance thin-film transistors withHf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric gates. IEEE Electron Device Letters 45(12): 2399-2402(2024).
Kun Wang, Jiaxian Wan, Liwei Ji, Zexin Tu, Zhiyv Zeng, Hao Wu*, Chang Liu*. Multilayer nanolaminate Hf0.5Zr0.5O2 thick films with high endurance and remnant polarization. Chemical Engineering Journal 510(15): 161787(2025)
